Svepelektronmikroskop – The procurement of the Supply, Installation and Commissioning of a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) with Gallium Ion Source

Nyckelfakta

Sista anbudsdag

16 nov. 2026

Publicerad

15 okt. 2026

TED-nummer

713490-2026

Anbudsspråk

engelska

CPV-kod

38511100, 38511000, 38512100

Vad köps (originaltext på engelska)

DTU requires the supply, delivery, installation, commissioning and acceptance of one (1) focused ion beam scanning electron microscope (FIB-SEM) dual-beam platform. The instrument shall serve a multi-user research environment and will be used for high-resolution surface imaging, site-specific cross-sectioning, TEM lamella preparation (including automated workflows), 3D FIB-SEM tomography, gas-assisted deposition and etching, nanoscale manipulation, and elemental microanalysis by energy-dispersive X-ray spectroscopy (EDS) and ToF-SIMS.

Så lämnar du anbud

1. Öppna upphandlingsdokumenten och klicka vidare till köparens upphandlingsverktyg.
2. Skapa ett gratis leverantörskonto där och ladda ner upphandlingsdokumenten.
3. Skriv anbudet på engelska. Ett anbud på fel språk kan förkastas.
4. Läs kvalificeringskraven först. Uppfyller du dem inte kan du inte vinna, oavsett pris.
5. Ställ frågor till köparen via verktyget i god tid. Svaren blir offentliga för alla anbudsgivare.
6. Lämna anbudet i verktyget före 16 nov. 2026. För sena anbud öppnas aldrig.