← Tillbaka till sökningen
28 dagar kvarcn-standard

Maskiner och apparater för provning och mätning – Integrated system for electric characterization and probing of semiconductor components and neuromorphic electronics

Universitetet i Oslo, Oslo, Norge

Värde ej angivet
Annonsen är på engelska. Anbudet ska skrivas på norska eller engelska. Översätt med AI

Nyckelfakta

Sista anbudsdag
17 nov. 2026
Publicerad
14 okt. 2026
TED-nummer
709678-2026
Anbudsspråk
norska, engelska
CPV-kod
38540000, 38341300

Vad köps (originaltext på engelska)

The University of Oslo is establishing a new research environment in neuromorphic hardware for energy-efficient artificial intelligence. The activity will connect materials development at the Centre for Materials Science and Nanotechnology (SMN) with expertise in circuit and system design at the Department of Informatics. A central need is the ability to electrically characterize devices from early-stage materials and device development to small arrays and demonstrators. This includes ferroelectric tunnel junctions (FTJs), ferroelectric field-effect transistors (FeFETs), resistive memory devices, and other device concepts relevant to neuromorphic electronics. The requirement consists of two technical main parts (Lot 1 and Lot 2): 1: A modular electrical measurement and characterization device 2: A semi‑automatic probe station with temperature control

Så lämnar du anbud

  1. Öppna upphandlingsdokumenten och klicka vidare till köparens upphandlingsverktyg.
  2. Skapa ett gratis leverantörskonto där och ladda ner upphandlingsdokumenten.
  3. Skriv anbudet på norska eller engelska. Ett anbud på fel språk kan förkastas.
  4. Läs kvalificeringskraven först. Uppfyller du dem inte kan du inte vinna, oavsett pris.
  5. Ställ frågor till köparen via verktyget i god tid. Svaren blir offentliga för alla anbudsgivare.
  6. Lämna anbudet i verktyget före 17 nov. 2026. För sena anbud öppnas aldrig.
Maskiner och apparater för provning och mätning – Integrated system for electric characterization and probing of semiconductor components and neuromorphic electronics – Offentio