Stängdcn-standard

Focused Ion Beam, Scanning Electron Microscope (FIB-SEM)

Lunds universitet, Lund

28 mkr

Uppskattat totalvärde exkl. moms för hela avtalsperioden. Det kan delas mellan flera leverantörer och är ingen garanti.

Annonsen är på engelska. Anbudet ska skrivas på engelska. Översätt med AI

Nyckelfakta

Sista anbudsdag: 24 aug. 2026
Publicerad: 2 juli 2026
TED-nummer: 456632-2026
Anbudsspråk: engelska
CPV-kod: 38511100, 38000000

Vad köps (originaltext på engelska)

Lund Nano Lab (LNL) at Lund University intends to purchase a Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope, in this document referred to as the FIB-SEM, instrument or equipment. This document lists all the requirements the FIB-SEM must meet. The instrument is intended to be used for high-resolution imaging, materials analysis and preparing samples for TEM analysis as well as for experiments at the MAX IV synchrotron.

Så lämnar du anbud

Öppna upphandlingsdokumenten och klicka vidare till köparens upphandlingsverktyg.
Skapa ett gratis leverantörskonto där och ladda ner upphandlingsdokumenten.
Skriv anbudet på engelska. Ett anbud på fel språk kan förkastas.
Läs kvalificeringskraven först. Uppfyller du dem inte kan du inte vinna, oavsett pris.
Ställ frågor till köparen via verktyget i god tid. Svaren blir offentliga för alla anbudsgivare.
Lämna anbudet i verktyget före 24 aug. 2026. För sena anbud öppnas aldrig.